在科技日新月异的今天，一种集微观成像、加工、分析与操控于一体的尖端设备——FIB-SEM双束系统，正逐步成为材料科学研究领域不可或缺的工具。该系统巧妙融合了聚焦离子束（FIB）技术和扫描电子显微镜（SEM）的优势，并通过附加气体注入系统、纳米操控器、 ...