Advantest SI/PI工程总监Quaid Joher表示:“在对高频系统的行为进行建模和仿真时 ... 这些看似微小的偏差可能会累积,影响整体良率和长期可靠性。 Modus Test首席技术官Jack Lewis表示:“无论封装互连设计模型和检测缺陷模型多么复杂,工艺变化都会以这些模型无法 ...
热建模是另一个主要限制因素。随着多芯片堆叠和超高密度集成越来越普遍,散热和机械应力引入了在模拟中并非总能预见的失效点。虽然现代工具提供了基线估计,但它们往往无法充分捕捉热膨胀失配和应力累积如何影响器件寿命。