在材料表征环节，运用 X 射线衍射（XRD）、拉曼光谱、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、比表面积分析（BET）、X 射线光电子能谱（XPS）等技术，对材料的晶体结构、形貌、比表面积、元素组成及电子结构等进行了全面深入的分析。此外，通过光 ...